可靠性试验设备检测

1范围
1.1本部分规定了低温/低气压/湿热综合顺序试验设备在进行周期检定时的检定项目、检定用主要仪器及要求,检定条件,测量点数量及布放位置,检定步骤、数据处理及检定结果等内容。
1.2本部分适用于对GB/T 2423.27—2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD;低温/低气压/湿热连续综合试验方法》所用试验设备的周期检定。
本部分也适用于类似试验设备的周期检定。
规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T 5170的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括期误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本适用于本部分。
GB/T 2423.27-2005电工电子产品基本环境试验﹑第⒉部分:试验方法﹐试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验(IEC 60068-2-39;1976,IDT)
GB/T 5170.1-1995电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法﹑总则GB/T 6999环境试验用相对湿度查算表
3检定项目
本部分规定的检定项目如下:——--降温速率与温度偏差;--降压速率;
温度偏差和气压偏差综合检定;—-升温时间、升压时间和加湿时间;—-温度与相对湿度;
--风速。
4检定用主要仪器及要求
4.1温度测量仪器
采用由铂电阻、热电偶或其他温度传感器组成的温度测量系统。
温度测量系统的扩展不确定度(k=2)不大于0.4℃;传感器的热时间常数:20 s~40 s。4.2低气压测量仪器
采用扩展不确定度(k一2)不大于被测气压允许偏差1/3的气压表(计)。4.3相对湿度测量仪器
采用干湿球温度计或由其他传感器组成的湿度测量系统,湿度测量系统的扩展不确定度(k=2)不大于被测湿度允许偏差的1/3。