测量、控制和实验室使用的电子设备检测

EN61326-1性能标准：

性能标准A和B中定义的*部分在EN 61326-1中保持不变。但是，2013版增加了与“允许的性能损失”相关的部分。如果制造商未确定较低性能级别或允许的性能损失，用户可以根据设备或产品文档的合理期望推断它们。换句话说，产品的功能仍然可以通过2006版本中*的用户干预来恢复-这个版本只是有额外的措辞来澄清。

EN61326-1排放标准：

2006版本参考CISPR 11：2003，而2013版本参考CISPR 11：2009+A1：2010。CISPR 11：2009的*次修订已经为“小型设备”在3米测试距离处建立了替代辐射发射限值，其中“小型设备”被定义为适合于距离地平面1.5米的圆柱形测试体积和1.2米的设备。放在平坦表面上时的直径。

EN61326-1基本环境中的力：

静电放电（ESD）的测试水平从EN 61636-1：2006中的±4 kV接触放电和±4 kV空气放电增加到EN 61326-1：2013中的±4 kV接触放电和±8 kV空气放电。这一变化旨在使标准*接近非实验室环境。

对于磁敏设备，EN 61326-1：2013增加了对工频磁抗扰度（IEC 61000-4-8）的新要求，测试水平为3A/m。受影响的设备类型包括霍尔效应传感器和磁继电器。

EN61326-1工业环境的力：

2013版中的每个订单项现在都有符合2006标准的性能标准。没有进行任何其他更改，使此部分基本相同。