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《微电子器件试验方法和程序》 方法 2009.1 外部目检 GJB 548B-2005
检测标准:电气、电子和机电元器件破坏性物理分析方法
检测对象:外部目检
检测项目:外部目检
检测标准:塑封微电路选择、筛选及鉴定程序 方法5.3.1
检测标准:半导体分立器件试验方法和程序 方法2071
外部目检 JESD22-B101C:2015
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外部目检 GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
外部目检、内部目检和结构检查 GJB128A-1997 2071 半导体分立器件试验方法
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