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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体集成电路 模拟开关测试方法
检测对象:模拟集成电路
检测项目:关断时间<I>t</I><Sub>off</Sub>
截止态漏极漏电流<I>I</I><Sub>D</Sub>(off) GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
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关断延迟时间t<sub>d</sub>(<sub>off</sub>) GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
截止态源极漏电流<I>I</I><Sub>S</Sub>(off) GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
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