检测地点
检测周期
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样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 5.1.6
检测对象:半导体集成电路
检测项目:内部检查
检测标准:电力用固定型阀控式铅酸蓄电池
检测对象:电力用固定型阀控式铅酸蓄电池
检测项目:内部检查
检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 3233-98 5.1.6
检测对象:半导体集成电路
检测项目:内部检查
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003 3.2.7
检测对象:电容器
检测项目:内部检查
检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目0103-2、0202-4、0701-5、1002-7
检测对象:电子元器件通用电子产品
检测项目:内部检查
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2073、2074、2075
检测对象:电子元器件
检测项目:内部检查
检测标准:半导体分立器件失效分析方法与程序 GJB3157-1998 方法3002、4002、4003、4005
检测对象:电子元器件
检测项目:内部检查
检测标准:多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备和检验方法 GJB4152A-2014 第五章
检测对象:电子元器件
检测项目:内部检查
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