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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
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检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.2.10
检测对象:半导体集成电路(失效分析)
检测项目:内部检查和清洗
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法2014
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2014
一般检查 GB/T 26135-2020 高压清洗机
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内部检查和清洗 GJB 3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法 5.2.10
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