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检测标准:半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
检测对象:二极管
检测项目:击穿电压V<Sub>(</Sub><Sub>BR</Sub><Sub>)</Sub>
漏源击穿电压V<Sub>(</Sub><Sub>BR</Sub><Sub>)</Sub><Sub>DSS</Sub> GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3047
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击穿电压V<Sub>BR</Sub> GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 4023
La<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、CeO<Sub>2</Sub>、Pr<Sub>6</Sub>O<Sub>11</Sub>、Nd<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、Sm<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、Eu<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、Gd<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、Tb<Sub>4</Sub>O<Sub>7</Sub>、Dy<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、Ho<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、Er<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、Tm<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、Yb<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、Lu<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、Y<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub> GB/T 17417.1-2010 稀土矿石化学分析方法 第1部分:稀土分量测定
化学成分(TiO<Sub>2</Sub>、SiO<Sub>2</Sub>、Al<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、WO<Sub>3</Sub>、CaO、V<Sub>2</Sub>O<Sub>5</Sub>、Fe<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、K<Sub>2</Sub>O、Na<Sub>2</Sub>O) DL/T 1286-2013 火电厂烟气脱硝催化剂检测技术规范
定量分析(SiO<SUB>2</SUB>、 MgO、CaO、Fe<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>、Al<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>、TiO<SUB>2</SUB>、K<SUB>2</SUB>O、Na<SUB>2</SUB>O、P<SUB>2</SUB>O<SUB>5</SUB>、BaO、Cr<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>、Mn<SUB>3</SUB>O<SUB>4</SUB>、SrO、 SO<SUB>3</SUB>、V<SUB>2</SUB>O<SUB>5</SUB>、ZrO、NiO) GB/T 21114-2019 耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法
漏-源击穿电压V(<sub>BR</sub>)<sub>DS</sub> GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
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