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价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法,微电子器件试验方法和程序 GJB3233-98,GJB548B-2005 5.2.13,方法2019.2
检测对象:半导体集成电路
检测项目:剪切强度测试
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