动态电源电流I<Sub>a</Sub>检测

室温拉伸 <i>R</i>_t0.5、<i>R</i>_p0.2、<i>R</i>_m、<i>R</i>_eL、<i>R</i>_eH、<i>A</i> ASTM E8/E8M-2011 金属材料抗拉试验方法

工作状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DD</Sub> SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

低电平电源电流<I>I</I><Sub>CCL</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法

维持状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DDS</Sub> SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

<I>R</I>_m、<I>F</I>_m、<I>F</I>_p0.2、<I>A</I>_gt GB/T 21839-2019 预应力混凝土用钢材试验方法

<I>R</I>_m、<I>F</I>_m、<I>F</I>_p0.2、<I>A</I>_gt GB/T 5223-2014 预应力混凝土用钢丝

静态电源电流<I>I</I><I><Sub>+</Sub></I> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理