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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:复杂可编程逻辑器件
检测项目:动态电源电流VCCSB
负载效应恢复时间(动态响应) 开关电源系统技术要求及检测规范第 4 部分:微站电源 Q/ZTT 2209.4—2020
咨询报价
负载效应恢复时间(动态响应) T 1016-2015 嵌入式高频开关电源系统检测规范 Q/ZT 8.2.6
动态电源电流VCCSB GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
启动冲击电流(浪涌电流) Q/ZTT 2209.4—2020 开关电源系统技术要求及检测规范第 4 部分:微站电源 6.5.2.1.7
动态电源电流 GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
动态条件下的总电源电流ICC GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
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