常温循环擦写后的数据保持能力测试检测

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常温循环擦写后的数据保持能力测试检测

相关标准

检测标准：可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012 3.3

检测对象：集成电路

检测项目：常温循环擦写后的数据保持能力测试

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