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检测标准:半导体分立器件失效分析方法和程序 GJB 3157-1998 4006方法
检测对象:半导体分立器件(失效分析)
检测项目:引线键合点分析
检测标准:半导体分立器件失效分析方法和程序 GJB3157-98 4006方法
检测对象:半导体分立器件
引线键合剪切试验 AEC-Q101-003-REV-A,
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