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152-0173-3840
检测标准:半导体集成电路运算放大器测试方法
检测对象:半导体集成电路运算放大器
检测项目:最大输出电压V<Sub>OPP</Sub>
输出电压降V<Sub>Tµ</Sub> QJ 2289-1992 固体继电器测试方法
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最大输出电流I<Sub>OM</Sub> QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法
最大输出电压V<SUB>OPP QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法
输出峰-峰电压 <I>V</I><Sub>OPP</Sub> GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法 5.13,6.13
最大输出电压V<Sub>OPP</Sub> QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法
输出电压幅度V<Sub>OPP</Sub> SJ/T 10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
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