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检测标准:半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
检测对象:绝缘栅双极型晶体管
检测项目:结到壳热阻/结到壳瞬态热阻抗
结温 JESD 51-14 :2010 具有单一散热路径的半导体器件结到壳热阻瞬态双界面测试法
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结-壳热阻和结-壳瞬态热阻抗 GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
结至环境的热阻/结至壳的热阻 JESD 51-14:2010 具有单一散热路径的半导体器件结到壳热阻瞬态双界面测试法
结-壳瞬态热阻抗和热阻 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
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