检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
检测标准:半导体分立器件试验方法 MIL-STD-750F:2012 3407
检测对象:绝缘栅双极型晶体管
检测项目:集电极-发射极击穿电压
检测标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测对象:晶体管
检测项目:集电极-发射极击穿电压
检测标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
检测对象:光电耦合器
检测项目:集电极-发射极击穿电压
检测标准:半导体光电耦合器测试方法
检测对象:光电耦合器
检测项目:集电极-发射极击穿电压
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
检测对象:半导体分立器件
检测项目:集电极-发射极击穿电压
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 3011
检测对象:元器件筛选
检测项目:集电极-发射极击穿电压