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实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
检测对象:半导体集成电路
检测项目:静态特性测试
屏蔽特性 ANSI/ESD STM11.31-2018 静态耗散材料特性屏蔽性能测试
咨询报价
静态戳穿性能 ISO 12236-2006 土工合成材料 静态刺破试验(CBR试验)
电阻值 ANSI/ESD STM11.11-2015 静态耗散材料特性表面电阻测试
静态戳穿性能 土工合成材料-静态戳穿测试(CBR测试)
渗流监测仪器静态特性检验 SL 530-2012 大坝安全监测仪器检验测试规程(附条文说明)
静态特性 GB/T 9652.1-2019 水轮机调速系统技术条件
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