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检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2023.2
检测对象:电子元器件
检测项目:非破坏性键合拉力试验
检测标准:微电子器件试验方法和程序
检测对象:集成电路
键合强度(破坏性键合拉力试验) GJB548B-2005 2011 微电子器件试验方法和程序 .1
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键合强度(破坏性键合拉力试验) GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2011.1
键合强度(破坏性键合拉力) MIL-STD-883K 微电路试验标准方法 :2016 2011.9
非破坏性键合拉力 GJB 2438B-2017 混合集成电路通用规范 表C.9
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