百检检测可依据相应检测标准进行检测等各种检测服务,亦可根据客户需求设计方案,为客户提供放心的检测服务。百检检测为客户提供一站式检测服务及绿色解决方案的综合性第三方检测机构, 如有检测需求,欢迎您随时咨询。
检测周期:7-15个工作日出具检测设备检测报告。
检测费用:免费初检,根据客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。
样品量大小:具体样品量需要根据客户的检测项目来决定,您可以咨询工程师。
检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
百检检测可依据相应检测标准进行检测等各种检测服务,亦可根据客户需求设计方案,为客户提供放心的检测服务。百检检测为客户提供一站式检测服务及绿色解决方案的综合性第三方检测机构, 如有检测需求,欢迎您随时咨询。
检测周期:7-15个工作日出具检测设备检测报告。
检测费用:免费初检,根据客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。
样品量大小:具体样品量需要根据客户的检测项目来决定,您可以咨询工程师。
检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 5.2.4
检测对象:半导体集成电路
检测项目:X射线检查
检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 5.1.6
检测对象:半导体集成电路
检测项目:内部检查
检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 5.1.1
检测对象:半导体集成电路
检测项目:外部检查
检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 5.2.8
检测对象:半导体集成电路
检测项目:密封性试验(检漏)
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2001.1
检测对象:半导体集成电路
检测项目:恒定加速度
检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 5.3.4
检测对象:半导体集成电路
检测项目:扫描电子显微镜分析
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1010.1
检测对象:半导体集成电路
检测项目:温度循环
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008.1
检测对象:半导体集成电路
检测项目:稳定性烘焙
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2020.1
检测对象:半导体集成电路
检测项目:粒子碰撞噪声检测试验
检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 5.2.7
检测对象:半导体集成电路
检测项目:粒子碰撞噪声检测(PIND)