TOF-SIMS分析去哪里做?飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)。此类质谱仪可同时检测所有给定*性的二次离子，并具有**质量分辨率。
检测范围
1，可对H-U元素进行定性分析(定量需标样)，检测*限可达ppm或更低的浓度。
2，良好的深度分辨率(0.1-1nm)，但溅射速率很慢(<1μm/H)。
3，*小小面积分析，*小区域可达直径80nm。
4，可分析有机物，能直接输出有机物分子式;
5，可对元素进行面分布分析。
检测标准
1ASTM E1156 0190 2607-2011报告次级离子质谱法(SIMS)中溅射深度截面数据的标准实施规程
2ASTM E1438-2011用次级离子质谱法(SIMS)测量深度掺杂分布界面宽度标准指南
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5，售后服务，相关工程师一对一服务。
6，可出具中英文检测报告，及msds报告编写服务。
TOF-SIMS流程
1、前期咨询
2、邮寄TOF-SIMS样品或上门取样。
3、工程师报价
4、支付检测费用，开展实验。
5、完成实验，出具检测报告。
6、邮寄检测报告，售后服务。
百检网平台服务质量承诺
行为公正: 自觉遵守公正性声明。
方法科学: 遵循科学求实原则，严格按照规定的方法从事校准工作。
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