检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
检测标准:非易失性存储器耐久性,数据保留和操作寿命 AEC-Q100-005-2012
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:工作寿命试验
检测标准:基于集成电路应力测试认证的失效机理 AEC-Q100H-2014 B1
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:工作寿命试验
检测标准:微机电系统(MEMS)压力传感器器件应力测试认证的失效机理 AEC-Q103-002-2019 PS1
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:工作寿命试验
检测标准:基于车用多芯片组件应力测试认证的失效机理 AEC-Q104-2017 B1
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:工作寿命试验
检测标准:无源元件的应力测试验证 AEC-Q200D-2010 8
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:工作寿命试验
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法:108
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:工作寿命试验
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法:1015.1,1016.1
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:工作寿命试验
检测标准:温度、偏压和工作寿命 JESD22-A108F-2017
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:工作寿命试验
检测标准:电子和电气元件的试验方法标准 MIL-STD-202H-2015 方法:108
检测对象:电子半导体产品和系统
检测项目:工作寿命试验
检测标准:减压阀规范 QJ 946A-96 3.5.9
检测对象:减压阀
检测项目:工作寿命试验