检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1022
检测对象:元器件筛选
检测项目:MOS场效应晶体管阈值电压
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法209
检测对象:元器件筛选
检测项目:X射线照相检验
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2012.1
检测对象:元器件筛选
检测项目:X射线照相检验
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 2076
检测对象:元器件筛选
检测项目:X射线照相检验
检测标准:电连接器试验方法 GJB 1217A-2009 方法3001
检测对象:元器件筛选
检测项目:介质耐电压试验
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法301
检测对象:元器件筛选
检测项目:介质耐电压试验
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法306
检测对象:元器件筛选
检测项目:品质因素(Q)测试
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 1071
检测对象:元器件筛选
检测项目:密封
上一篇《传感器检测》
下一篇《光栅角位移传感器检测》