首饰金覆盖层检测

首饰金、银覆盖层厚度的测定

X射线荧光光谱法

1范围

本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。

本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定（覆盖层与基体为非相同材质)。注:本方法测定的覆盖层厚度相当于足金或足银的厚度，可根据实际金、银覆盖层含盘进行折算。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件，其*新版本适用于本标准。

QB 1131首饰金覆盖层厚度的规定（ISO 10713:1992，MOD)

QB 1132首饰银覆盖层厚度的规定

3方法原理

采用X射线荧光光谱法测量金、银覆盖层厚度是通过检测和分析X射线荧光而确定覆盖层厚度的。每种元素的原子都具有其本身独有的电子排列，对于给定的特征X射线，其能量取决于该原子的原子序数，因此，不同的材料将产生不同能量的X射线荧光。通过X射线荧光测厚仪对不同材料发出的特征X射线荧光进行能量分辨和强度的检测，可以确定材料的特性，从而测定覆盖层厚度。