硅片质量检测|硅片厚度检测

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服务背景

硅片,是制作集成电路的重要材料,通过对硅片进行光刻、离子注入等手段,可以制成各种半导体器件。 用硅片制成的芯片有着惊人的运算能力。


硅片检测范围


单晶硅片、太阳能硅片、多晶硅片、半导体硅片等。


检测内容

硅片检测项目


质量检测、厚度检测、隐裂检测、工业问题诊断、表面有机物检测、电阻率检测、压阻系数、表面粗糙度检测、反射率检测、翘曲度检测、微量元素检测、碳氧含量检测、结晶度检测等。

检测标准
产品名称检测项目检测标准
硅片硅片电阻率测定 扩展电阻探针法GB/T 6617-2009
硅片硅片切口尺寸测试方法GB/T 26067-2010
硅片硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法GB/T 29505-2013
硅片太阳能电池用多晶硅片GB/T 29055-2019

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工作: 根据实际情况和客户需求,不断改进业务流程,确保校准工作在承诺的时间内完成。

收费合理: 校准费用不高于国家及省、市物价部门批准的收费标准,不高于同行平均水平。

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