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检测标准:半导体器件-机械和气候试验方法-第23部分:高温工作寿命 IEC60749-23(Edition 1.0):2004 全部条款 全部条款
检测对象:半导体器件
检测项目:高温栅偏(HTGB)
检测标准:半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命
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高温贮存试验 一般兼矿用本质安全型安全栅
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