正向电压V_F、V_FM检测

漏源击穿电压V<Sub>（</Sub><Sub>BR</Sub><Sub>）</Sub><Sub>DSS</Sub> GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3047

正向电压 <I>V</I><Sub>F</Sub> GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 4011

正向电压V<Sub>F</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法

材料 GB/T 26797-2011 E1、E2、F1、F2、M1、M1-2、M2、M2-3、M3等级砝码

正向电压（输入二极管）<I>V</I><Sub>F</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法

化学成分(TiO<Sub>2</Sub>、SiO<Sub>2</Sub>、Al<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、WO<Sub>3</Sub>、CaO、V<Sub>2</Sub>O<Sub>5</Sub>、Fe<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>、K<Sub>2</Sub>O、Na<Sub>2</Sub>O) DL/T 1286-2013 火电厂烟气脱硝催化剂检测技术规范

正向电压 V<SUB>F</SUB> GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4011

密度 GB/T 26797-2011 E1、E2、F1、F2、M1、M1-2、M2、M2-3、M3等级砝码

输出电压V<Sub>O</Sub>和输出电压偏差△V<Sub>O</Sub> GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法