采样-保持失调电压<I>V</I><I><Sub>OS</Sub></I>检测

室温拉伸 <i>R</i>_t0.5、<i>R</i>_p0.2、<i>R</i>_m、<i>R</i>_eL、<i>R</i>_eH、<i>A</i> ASTM E8/E8M-2011 金属材料抗拉试验方法

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采样-保持失调电压<I>V</I><I><Sub>OS</Sub></I> GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

失调电流<I>I</I><Sub>os</Sub> GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub> GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub> SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub> SJ/T 10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理

<I>R</I>_m、<I>F</I>_m、<I>F</I>_p0.2、<I>A</I>_gt GB/T 5223-2014 预应力混凝土用钢丝

输入失调电流<I>I</I><Sub>IO</Sub> SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法