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检测标准:半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测对象:采样保持放大器
检测项目:采样-保持失调电压V<Sub>OS</Sub>
输入失调电压V<Sub>IO</Sub> SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
咨询报价
输入失调电压V<Sub>OS SJ/T 10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
采样-保持失调电压<I>V</I><I><Sub>OS</Sub></I> GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
失调电压V<Sub>os</Sub> GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
输入失调电压V<Sub>OS SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
失调电压V<Sub>os</Sub> GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
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采样-保持失调电压<I>V</I
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