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检测标准:半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测对象:模拟集成电路
检测项目:负输入电流I<Sub>b-</Sub>
检测标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
输入反向漏电流 <I>I</I><Sub>R</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
咨询报价
负输入电流I<Sub>b-</Sub> GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
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