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检测标准:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
检测对象:光电耦合器
检测项目:输入和输出之间的隔离电阻R<Sub>IO</Sub>
输入失调电流 I<SUB>IO</SUB> SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法
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输入失调电流I<sub>IO<sub> SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法
输入输出电容C<Sub>IO</Sub> GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
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MPI-S<Sub>M</Sub>~MPI-R<Sub>M</Sub>之间参数 YD/T 1159-2016 光波分复用(WDM)系统测试方法
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输入功率的测定检测
输入功能检测
输入参数检测
输入反向漏电流 <I>I</I>
输入反向漏电流 I<SUB>R<
输入反极性保护功能检测
输入口允许频偏试验检测
输入口接收灵敏度试验检测
输入启动冲击电流检测
输入和输出之间的隔离电阻检测
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