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价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测对象:微电子器件
检测项目:间歇寿命
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1036、1037
检测对象:电子元器件及设备(寿命及可靠性)
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 方法1006
间歇寿命 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1036、1037
咨询报价
1036间歇工作寿命 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 1036
间歇工作寿命 GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 1036
稳态工作、间歇寿命 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1026
间歇运行寿命试验 JESD22-A105-2011 功率温度循环
间歇运行寿命试验 MIL-STD-750F 半导体器件试验方法 -2012 方法:1037
间歇寿命 GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 方法1006
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间室内温度波动度的计算方法检测
间室内温度的测量时机检测
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间室平均空气温度测定检测
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