间歇工作寿命检测

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间歇工作寿命检测

相关标准

检测标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法 1037

检测对象：场效应晶体管

检测项目：间歇工作寿命

检测标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 1036

检测对象：元器件筛选

检测项目：间歇工作寿命

检测标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1006

检测对象：元器件筛选

检测项目：间歇工作寿命

检测标准：半导体器件的环境试验方法第1部分：方法1000至1999 MIL-STD-750-1A w/CHANGE 2 方法1037.3

检测对象：半导体器件

检测项目：间歇工作寿命

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