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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1042、1038、1039
检测对象:电子元器件试验
检测项目:高温寿命试验/老炼试验
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法108
检测标准:微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 方法1015.1
老炼试验 QJ 908A-1998 电子产品老炼试验方法
咨询报价
老炼、寿命试验 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1、1015.1
高温寿命试验/老炼试验 GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法108
稳态寿命/间歇寿命/模拟寿命老炼测试 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法 1026,1027
老炼和寿命 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法 1042
老炼和寿命试验(IGBT) GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1042
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