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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法 1031
检测对象:场效应晶体管
检测项目:高温寿命(非工作)
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法108
检测对象:电子元器件
1031高温寿命(非工作) GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 1031
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高温寿命(非工作) GJB 601A-98 热敏电阻器总规范 GJB601A-98 4.6.25
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