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检测标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测对象:时基电路
检测项目:静态电源电流I<Sub>+</Sub>
工作状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DD</Sub> SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
咨询报价
静态电源电流I<Sub>+</Sub> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
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静态电源电流<I>I</I><Sub>DD</Sub> SJ/T 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 5.1.9、5.2.9
维持状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DDS</Sub> SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
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静态电流ID及静态电流变化△ID
静态电流变化检测
静态电源电流检测
静态电源电流 I<Sub>D</
静态电源电流<I>I</I><I
静态电源电流<I>I</I><S
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