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检测标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测对象:双极型晶体管
检测项目:结至环境的热阻/结至壳的热阻
检测标准:具有单一散热路径的半导体器件结到壳热阻瞬态双界面测试法 JESD 51-14:2010
检测标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
检测对象:场效应晶体管
结温 JESD 51-14 :2010 具有单一散热路径的半导体器件结到壳热阻瞬态双界面测试法
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结-壳热阻和结-壳瞬态热阻抗 GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
结至环境的热阻/结至壳的热阻 JESD 51-14:2010 具有单一散热路径的半导体器件结到壳热阻瞬态双界面测试法
结壳热阻 JB/T 7826.2-1996 MTQ(MFQ)系列晶闸管单相桥模块
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结至环境的热阻/结至壳的热阻 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
结壳热阻 JB/T 7826.1-1995 MT、MF系列臂对晶闸管模块
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