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检测标准:半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3011.2
检测对象:晶体管
检测项目:集射极反向击穿电压
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 3011
集射间反向击穿电压 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 3407
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