NF C96-022-23-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命

百检网 2021-07-14
标准号:NF C96-022-23-2004
中文标准名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命
英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23 : high temperature operating life.
标准类型:L40
发布日期:2004/7/1 12:00:00
实施日期:2004/7/20 12:00:00
中国标准分类号:L40
国际标准分类号:31.080.01

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