标准简介
GB/T 4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用，是一种破坏性试验。 试验目的如下： a）〓检测和测量半导体器件关键参数的退化与中子注量的关系； b）〓确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的*限值之内（见第4章）。英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 17:Neutron irradiation
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
ICS分类：电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
出版日期：2018-09-01
页数：8页
前言
半导体分立器件综合相关标准
