IEC 60749-17-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照

百检网 2021-07-14

标准号：IEC 60749-17-2003
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：Used to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.

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