DINEN60749-23-2004 (已作废) 半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温寿命

百检网 2021-07-21

标准号：DINEN60749-23-2004 (已作废)
中文标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温寿命
英文标准名称：Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part23:Hightemperatureoperatinglife(IEC60749-23:2004)
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01

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