半导体特性分析系统

百检网 2021-11-11

半导体器件：片上参数测试晶圆级可靠性封装器件的特性分析使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析高K栅电荷俘获易受自加热效应影响的器件和材料的等温测试电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度电阻式或电容式MEMS驱动特性分析光电器件：半导体激光二*管DC/CW特性分析收发模块DC/CW特性分析PIN和APD特性分析科技开发：碳纳米管特性分析材料研究电化学

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