GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法

百检网 2022-10-23

标准简介

本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for dielectric loss angle tangent value
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 5594.4-2015代替
中标分类：>>>>L32
ICS分类：31.030
发布部门：国家标准局
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
作废日期：2016-01-01
出版日期：1986-12-01
页数：4页

前言

相关标准

百检能给您带来哪些改变？

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准；

4、免费初检，初检不收取检测费用；

5、自助下单快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、中国通用；

客户案例展示

相关商品

上一篇《GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方法》

下一篇《GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》

版权与免责声明

①本网注名来源于“互联网”的所有作品，版权归原作者或者来源机构所有,如果有涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一个月内与本网联系，联系邮箱service@baijiantest.com，否则视为默认百检网有权进行转载。

②本网注名来源于“百检网”的所有作品，版权归百检网所有，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。想要转载本网作品，请联系:service@baijiantest.com。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：百检网"。违者本网将追究相关法律责任。

③本网所载作品仅代表作者独立观点，不代表百检立场，用户需作出独立判断，如有异议或投诉，请联系service@baijiantest.com

相关资讯

行业热点