标准简介
GB/T5594的本部分规定了电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍等陶瓷材料化学稳定性的测试方法。 本部分适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍等陶瓷材料化学稳定性的测试。 本部分不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性。英文名称：Test methods for properties of structure ceramics used in electronic component and device—Part 6:Test method for chemical durability
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 5594.6-1985
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
ICS分类：31-030
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2015-05-15
实施日期：2016-01-01
出版日期：2016-01-01
页数：8页
前言
GB/T5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》分为以下部分:———气密性测试方法(GB/T5594.1);———杨氏弹性模量 泊松比测试方法(GB/T5594.2);———第3部分:平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3);———第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4);———体积电阻率测试方法(GB/T5594.5);———第6部分:化学稳定性测试方法(GB/T5594.6);———第7部分:透液性测定方法(GB/T5594.7);———第8部分:显微结构测定方法(GB/T5594.8);———电击穿强度测试方法(GB/T5594.9)。本部分为 GB/T5594的第6部分。本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分代替 GB/T5594.6—1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法》。本部分与 GB/T5594.6—1985相比,主要有下列变化:———标准名称改为:“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法”;———在“6.1.1”中,将测试样品数量由原来的2个修改为3个,增加了“选择无气孔、无裂纹及无其他缺陷的试样”;———在“6.1.2”中,修改了“皂片溶液”为“去污粉”;———在“6.2.3”中,修改了“甘油溶液作为水浴锅加热溶液”为“蒸馏水作为水浴锅加热溶液”;———在“7.1”和“7.2”中,将试样重量修改为质量,符号由G 修改为m,计算公式相应修改。———增加了“8 测试结果及报告”。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由中国电子技术标准化研究院归口。本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、北京七星飞行电子有限公司。本部分主要起草人:何晓梅、曾桂生、何诗静。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:———GB/T5594.6—1985。
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