BS EN 60749-38-2008 BS EN 60749-38-2008 半导体器件.机械和气候试验方法.带存储器的半导体器件用软错误试验法

百检网 2021-08-19
标准号:BS EN 60749-38-2008
中文标准名称:BS EN 60749-38-2008 半导体器件.机械和气候试验方法.带存储器的半导体器件用软错误试验法
英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
发布日期:2008-06-30
实施日期:2008-06-30
中国标准分类号:L40
国际标准分类号:31.080.01

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