氢化物发生-原子荧光光谱法测定痕量锗已得到广泛的应用，但此种方法对溶矿温度要求比较苛刻，过高将造成Ge的损失；过低则HNO3和有机质难以除尽，二者的存在都会干扰测定。
原子荧光法测Ge 的干扰主要有可形成氢化物元素之间在传输及原子化过程中产生的气相干扰，因Sb 、Bi 、Se 等可形成氢化物元素在地质样品中的含量较低，通常不会造成干扰；而As的含量则相对高一些,所以其对Ge 的干扰显得较为突出。
基于此，本文从样品处理和测定条件两方面着手，研究了样品处理过程中各种酸对Ge的影响及测定时干扰的消除，拟定了一套操作更简便、测定更准确的分析方法。
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