检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国，就近分配
可加急，最快1.5个工作日（特殊样品除外）
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样，数量及规格等视检测项而定
电议（检测的标准和检测项目数量不同而价格不同）
急速响应
全程跟踪
品质严保
范围
本标准规定了确定液压系统的油液中固体颗粒污染等级所采用的代号。
规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本适用于本标准。
GB/T 18854—2002液压传动﹐液体自动颗粒计数器的校准(ISO 11171;1999,MOD)ISO 4407;1991液压传动油液污染用显微镜计数法测定颗粒污染
ISO 11500:1997液压传动利用遮光原理自动计数测定颗粒污染
检测标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测项目：复位电压V<Sub>R
检测标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测项目：复位电流I<Sub>R
检测标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测项目：控制端电压V<Sub>C
检测标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测项目：触发电压V<Sub>TR
检测标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测项目：触发电流I<Sub>TR
检测标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测项目：输出低电平电压V<Sub>OL
检测标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH
检测标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测项目：阈值电压V<Sub>T
检测标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测项目：阈值电流I<Sub>T
检测标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测项目：静态电源电流I<Sub>+
