电子元器件及设备(霉菌)检测

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电子元器件及设备(霉菌)检测

范围

GB/T 2423的本部分规定了确定电子产品上长霉程度和长霉对产品特性及其他相关性能影响的试验方法。

由于长霉条件包括高的相对湿度,本试验也可以用于评价电子产品在潮湿条件下一段时期的运输、贮存以及使用的适应能力。


规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB/T 2423的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本适用于本部分。

GB/T 27025 -2008检测 和校准实验室能力的通用要求(ISO/IEC 17025 :2005 ,IDT)

ISO 846:1997塑料 ---微生物作用评价

MIL-STD-810 F:2000方法 508.5真菌实验室生物安全手册(第二版WHO 1993 ,ISBN 924 1544503)

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