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152-0173-3840
检测标准:半导体集成电路 模拟开关测试方法
检测对象:模拟开关
检测项目:关断时间t<Sub>off</Sub>
截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub><Sub>(</Sub><Sub>off</Sub><Sub>)</Sub> GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
咨询报价
开关时间测试(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>) GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 3472
关断延迟时间t<sub>d</sub>(<sub>off</sub>) GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
关断时间T<Sub>off GJB 1515B-2017 固体继电器总规范 GJB1515B-2017 3.12.20
开关时间测试(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>) MIL-STD-750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 3472.2
关断时间t<Sub>off</Sub> GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
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关合额定短路开合电流和开合负荷电
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关断延迟时间检测
关断时间检测
关断时间 Toff检测
关断时间<I>t</I><Sub
关断时间T<Sub>FF</Su
关断时间T<Sub>off检测
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