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检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2074
检测对象:半导体分立器件
检测项目:内部目检(半导体二极管)
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 2074
内部目检(半导体二极管) GJB128A-1997 2074 半导体分立器件试验方法
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半导体发光二极管 SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
外部目检 GB/T 6351-1998 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
方法4005:色差 SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
芯片目检(半导体二极管) GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2073
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