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检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2010
检测对象:半导体集成电路
检测项目:内部目检(单片)
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 2010.1
检测对象:微电子器件
检测标准:微电路试验标准方法 MIL-STD-883K:2016 2010.14
检测对象:电子元器件
检测标准:微电子器件试验方法和程序
检测对象:集成电路
检测标准:微电路试验标准方法
内部目检(单片) MIL-STD-883K 微电路试验标准方法 :2016 2010.14
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